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行事案内/過去の行事 /イオンマイグレーション評価法研究会

エレクトロケミカル(イオン)マイグレーション評価法研究会　公開研究会のご案内   （社）エレクトロニクス実装学会信頼性解析技術委員会 エレクトロケミカル（イオン）マイグレーション評価法研究会 主査　津久井　勤 　日頃はJIEPエレクトロケミカル（イオン）マイグレーション評価法研究会に ご協力頂き誠に有り難うございます。 　９月７日に予定しておりました公開研究会は台風９号の影響を考慮して延期 とさせていただきました。忙しい中、参加予定されていた方々には大変ご迷惑 をおかけいたしました。また、短期間で定員に達してしまったことで多数の方 のご希望に添えないこともあり、申し訳ありませんでした。 　そこで、日程と開催場所も新たに公開研究会を再開催いたします。 　 　最近の電子機器の小型軽量化と高機能化にともない、益々高密度実装が進ん でおり、加えてその領域も拡大しております。その結果、今までマイグレー ションによる劣化とは関係ないと思われていた分野におきましてもその対策が 必要になってきております。 　このような背景から、上記のトレンドに対応するため先に発行しておりました「イオンマイグレーション評価方法」（２００５）を改訂し、名称も変更して「エレクトロケミカルマイグレーション評価方法（約１００頁）」を発行致しました。そこで公開研究会を開催して、この冊子の紹介と併せて、当研究会 活動の紹介、更には最近話題の微細配線技術と信頼性についてのご講演もお願 いしております。 日　時： ２００７年１０月１７日（水）１３：３０～１６：４５ 会　場： 国立オリンピック記念青少年総合センター　センター棟　102号室 地図　http://nyc.niye.go.jp/facilities/d7.html 参加費： 会員　７０００円、　非会員　１００００円 資料込み「エレクトロケミカルマイグレーション評価方法」 全１００ページ　カラー５０ページ 定　員： １７０名　定員になり次第締め切らせて頂きます。 お申し込み： 下記参加申し込み票に必要事項をご記入の上、同票記載のE-mail またはFAXにてお申し込み下さい。  プログラム： 1.  冊子改正の趣旨と概要、研究会活動の状況、関連規格 リサーチラボ・ツクイ　津久井　勤氏 2.  冊子内容の説明 １）試験条件と評価試料 　 　高木技術士事務所　高木　清氏 ２）試験方法 　　 財団法人　日本電子部品信頼性センター　岡本　秀孝氏 ３）電気計測 　　 ＩＭＶ株式会社　徳光　芳隆氏 ４）故障解析と分析　　　　　　　 　 　株式会社ケミトックス　兵藤　慎也氏 3.  研究会活動状況報告(CAFによる劣化を中心に) 　　新光電気工業株式会社　中村　和裕氏 4.  依頼講演 １）COF(Chip on Film)基材におけるイオンマイグレーション挙動 　 三井金属工業（株）　松村　保範氏 ２）フレキ基板上の微細配線におけるマイグレーション挙動と評価法の確立 　（株）ミスズ工業　　伊澤　早苗氏 JIEPエレクトロケミカルマイグレーション評価法公開研究会参加申し込み票 ================================================================== 申し込み票ご送付先 E-mail: migration@my.home.ne.jp FAX：020-4665-7462 ・氏　名： ・会社／機関名： ・所属： ・E-mail： 会員、非会員の別（該当項に◯印をお願いします） JIEP会員（会員番号：　　　　　）、非会員 会員区分にご記入がない場合は、非会員として受付処理をさせていただきますので、会員の方は必ずご記入ください。 定員は１７０名です。定員になり次第締め切らせて頂きます。 ===================================================================