■巻頭言
/デンソー 三宅敏広
■特集/官能検査システム化の最新技術とIoT時代への展望
/産業技術総合研究所 野中一洋
469
/中京大学 青木公也,吉村裕一郎,片山隼多470
/広島大学 青山忠義,石井 抱
475
/富士テクニカルリサーチ 渡辺 惇
481
/産業技術総合研究所 寺崎 正
485
■研究論文
/関東学院大学 梅田 泰,野村太郎,中林祐稀,田代雄彦,本間英夫,高井 治,
/関東学院大学,ヱビナ電化 中川陽代
492
■研究室訪問
鹿児島大学大学院理工学研究科機械工学専攻池田・小金丸研究室
/鹿児島大学 池田 徹
501
Vol. 19総目次
502
マイクロエレクトロニクスシンポジウム (MES) 2016セッションサマリー
505
会告
①~③