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共 催: |
イオンマイグレーション試験法研究会/信頼性解析技術委員会 |
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期 日: |
2005年6月2日(木) 13:30 - 16:30 |
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会 場: |
東京ビッグサイト 会議棟1F 101号室 |
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プログラム: (予定) |
1. |
『開会の挨拶(5分)』 津久井 勤 東海大学 |
2. |
『アンケート結果とイオンマイグレーションに関する評価試料について(30分)』 宇敷 滋 太陽インキ製造(株) |
3. |
『試験条件と試験方法について(30分)』 佐々木 正幸 (株)ケミトックス |
4. |
『環境試験装置について(30分)』 岡本 秀孝 (財)日本電子部品信頼性センター |
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-休憩(15分)- |
5. |
『絶縁計測関連について(30分)』 小林 吉一 楠本化成(株) |
6. |
『試験後の故障判定と分析・解析について(30分)』 中村 和裕 新光電気工業(株) |
7. |
『総合討論(10分)』 |
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参加費: |
学会会員(賛助会員含む) |
5,000円 |
非会員 |
8,000円 |
(資料代・消費税込み) |
※参加費は,当日,会場受付で現金にて頂きます。 (請求書の発行はいたしません。) |
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参加申込: |
(1)氏名,(2)社名・所属部署,(3)住所,(4)TEL・FAX,(5)会員・非会員の区別,(6)会員の方は会員番号を記入の上,imt@jiep.name まで,Eメールでお申し込みください。 (下記文章をコピー&ペーストでお願いいたします)
イオンマイグレーション試験法研究会御中
公開研究会参加申込書
下記の通り申し込みます
(1)氏名:
(2)社名・所属部署:
(3)住所:
(4)TEL・FAX:
(5)会員非会員種別:会員(会員番号 )・非会員
(いずれかを消して下さい) |
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問合せ先: |
本研究会に関する問い合わせは,下記まで。 s-ushiki@taiyoink.co.jp または,tsukui@keyaki.cc.u-tokai.ac.jp |