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日 時: |
2009年11月20日(金) 13:30~17:00 |
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会 場: |
国立オリンピック記念青少年総合センター センター棟4階 405号室
http://nyc.niye.go.jp/
東京都渋谷区代々木神園町3-1(小田急線参宮橋駅下車徒歩7分) |
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テーマ: |
:「見えない、触れない」部品の検査 ~部品内蔵基板検査へのアプローチ
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プログラム: |
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(講演題目は仮題です。また、10/20現在講演交渉中のものも含みます。)
13:30~13:35 |
開会あいさつ
研究会主査/富士ゼロックス(株):内山 浩志 |
13:35~14:15 |
<基調講演>
「グローバルなボード検査の概況」
富士通(株):亀山 修一 |
14:15~14:45 |
「SIPにおけるDFTソリューション」
(株)ルネサステクノロジ:田中 英樹 |
(休憩) |
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15:00~15:30 |
「部品内蔵基板の生産、検査の現状」
EPADs研究会/沖プリンテッドサーキット(株):飯長 裕 |
15:30~16:00 |
「内蔵受動部品、能動部品の電気検査における課題」
検査技術委員会/日置電機(株):山嵜 浩 |
16:00~16:30 |
「ボードテスト検査装置の課題」
検査技術委員会/富士ゼロックス(株):内山 浩志 |
16:30~17:00 |
自由討論(発表者との自由討論・情報交換) |
※プログラムは変更になることがあります。ご了承ください。 |
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主 催: |
(社)エレクトロニクス実装学会 検査技術委員会
検査の立場から見たDFT研究会 |
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参加要領: |
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定 員 70名(先着申込順) |
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参加費 公開研究会(テキスト代、消費税込み)
正会員・賛助会員:2,000円 非会員:3,000円
シニア会員(65才以上の会員)&学生:1,000円
参加費は当日会場受付にて徴収します。(釣り銭のないようにお願いします。) |
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申込方法: |
* |
下記の内容をEメール(下記)でお送りください。 |
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定員(70名)を超え、参加をお断りするときは連絡を差し上げます。
お申込みせずに当日おいでいただいても、定員に達している場合は入場できません。
必ず事前にお申込みください。なお、参加券等の発行はしておりません。 |
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申込先: |
*小川武男(富士通株式会社):ogawa.takeo@jp.fujitsu.com |
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申し込み用紙: |
*会員区分(該当内容に○印を付けて下さい)
( ) 正会員(会員番号 )
( ) シニア会員(会員番号 )
( ) 賛助会員
( ) 非会員
( ) 学生
*氏 名
*氏名ふりがな
*社名(学校名)
*所属部署(学部/学科)
*連 絡 先
住 所
TEL.
E-mail
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