検査技術委員会では、プリント回路基板の検査技術に関する技術調査と「検査&ものづくりイノベーション研究会」による検査技術高度化、容易化に関する調査、研究を行っています。
当技術委員会でのアンケート調査結果によると、高密度化・高精細化するベアボードや 実装基板、部品内蔵基板の製造後の検査は、各社とも多くの課題を抱えているが、対策に結びついておらず、現場の技術者が苦慮しているということが分かっています。
当技術委員会では、国内外技術の調査、専門家の意見聴取、研究会活動を通して、これらの課題の解決方法を見出す活動を行っています。
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委員長 内山 浩志 (富士ゼロックス株式会社) kouji.uchiyama*fujixerox.co.jp
副委員長 野口 祐智(東京電機大学)m.noguchi*mail.dendai.ac.jp
副委員長 堀井 良和 (日産自動車株式会社) y-horii*mail.nissan.co.jp
(Eメールアドレスの*は@に置き換えてください。) |
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