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第14巻第2号(通巻第92号)
2011年3月
ISSN1343-9677 |
目次 |
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特集に寄せて |
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/小林技術事務所 小林 正 |
79 |
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エレクトロニクス実装検査ロードマップ |
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/日置電機 山嵜 浩 |
80 |
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基板設計システムと基板検査システムの連携 |
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/日立製作所 梶谷 林 |
85 |
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高密度実装基板外観検査の動向 |
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/名古屋電機工業 豊島保典 |
90 |
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部品内蔵基板の検査方法の提案 |
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/検査技術委員会 |
94 |
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IEEE1149.1準拠IC間断線の電気検査法 |
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/徳島大学大学院 橋爪正樹,加藤健二,四柳浩之 |
99 |
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“検査の経済的評価尺度”構築に向けて |
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/富士ゼロックス 内山浩志 |
103 |
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海外(中国)での品質保証事情と製造現場での問題点 |
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/日本フェンオール 大久保今朝秀 |
109 |
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FPCにおける回路設計が伝送特性に与える影響 |
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/ニッポン高度紙工業 笹岡典史,大野正人 |
140 |
■ 講座 「最新の分析・計測技術」第6回(最終回) |
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分析試料作製技術 |
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/ベルコ科研 林 富美男 |
145 |
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関東学院大学工学部物質生命科学科小岩研究室 |
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/関東学院大学 小岩一郎 |
150 |
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「エレクトロニクス実装学会誌」投稿規程・査読について・原稿執筆の手引 |
151 |
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本会だより |
157 |
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会告 |
(1)~(22) |
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■ 編集委員会 |
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委員長 ・ 安東 泰博 副委員長 ・ 高橋 康夫,末松 憲治,平 洋一 |
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委員(五十音順) ・ |
赤星 晴夫,安食 弘二,伊藤 寿浩,碓氷 光男,榎 学,海老原理徳,折井 靖光,越地 耕二,
小林 一治,澤田 廉士 白石 洋一,高原 秀行,塚田 裕,塚本 健人,箕輪 俊夫,山中 公博 |
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