EMCサマーセミナー

☆プログラム☆
09:00～	受付開始
09:50～10:00	イントロダクション櫻井秋久 (日本ＩＢＭ)
10:00～10:40	高速差動伝送の動向＜シリアル伝送とパラレル伝送＞井上博文（日本電気）　シリアル伝送よりパラレル伝送の方がデータ速度が速いはずなのに，近年，どうして差動信号のシリアル伝送が注目されているのか.急速にニーズが高まっている高速シリアル伝送について，過去から今日に至る製品の流れとその技術的な背景について解説する.
10:40～11:20	高速伝送を支える基板材料冨永弘幸（松下電工）　Gbps伝送向け基板材料の概要紹介を中心に，伝送向け基板材料とその電気的特性，評価結果，また，高速デバイスの使用時の電源層への対応も基板材料の観点から，電気的特性や評価，解析結果も交えて紹介する.
11:20～11:30	休　憩
11:30～12:10	高速差動伝送信号のアイ・パターン，ジッタ測定法田村昌信（レクロイ・ジャパン）　高速シリアル差動伝送信号の新しいアイパターン評価方法を紹介する.サンプリングオシロスコープによる方法と比べて，ジッタの少ないきれいなアイパターン表示が可能.ISI（符号間干渉）によるジッタの測定，Rj，Djの分離手法など新しいジッタ評価方法も解説する.
12:10～12:50	アイパターンの実例山岸圭太郎（三菱電機）　実際に伝送されるアイパターンについて，Via/配線長/クロストークノイズ/伝送レートの影響，プリエンファシス/イコライザの効果等，実例を紹介する.
12:50～13:50	昼　食 (昼休み中に，測定装置の実機プレゼンテーションが行われます．)
13:50～14:30	雑音発生源特定のための近傍磁界測定須賀　卓（日立製作所）　素子の高速化に伴う電磁雑音増加，製品開発サイクル短縮に対応すべく，雑音源を特定し対策期間を短くする測定技術が必須となっている.近傍界と遠方界の関係を中心に解説し，雑音発生源を特定する測定技術について紹介する.
14:30～15:10	電子機器の近傍電磁界測定装置風間　智（太陽誘電）　電子機器の近傍の電界と磁界を同時に位相情報も含め測定できる測定装置とその測定装置で測定された電子機器の近傍電磁界分布の測定例について述べる.
15:10～15:30	休　憩
15:30～16:10	ＬＳＩのＥＭＣ特性評価とモデル化和田修己（岡山大学）　デジタル機器のノイズ低減には，従来のボードレベルの実装・対策のみでは対応が困難になり，デバイス自体のＥＭＣ設計が要求される.そのためのデバイスのＥＭＣ特性評価法とＥＭＣシミュレーションモデルの動向について紹介する.
16:10～16:50	イミュニティ性能向上の基礎と具体例久保寺忠（日本フェンオール）　機器のイミュニティ設計について，基本的な対応策を実験によって再検証する.
16:50～17:20	まとめ及びＱ＆Ａ中村篤（ルネサス）今回の講演を総括し，まとめの質疑討論を行う．
17:30～19:00	技術交流会

【参加費・申込要領】
● 参加費	会員 \8,000 非会員 \9,000 (テキスト代，技術交流会費，消費税込み) ＊当日支払いの方は，できるだけつり銭のないようにお願い致します。
● 定員	150名 (定員に達し次第，締切ります)
● 申し込み方法
	１） Fax：申込みフォーマットに記入し，JIEP事務局(Fax:03-5310-2011)に申込みください。２） E-mail：申込みフォーマットの内容をＥメールにて，JIEP事務局(kenkyukai@jiep.or.jp)宛に申込みください。　参加申込みは当日も受付けますが，できる限り事前に事務局に申込みいただくようお願い致します。申込み等の確認はE-mailにて受付番号と会場案内図を連絡致します。　なお請求書が必要の方は，申込みフォーマットの請求書(要)に○印を付けお送り下さい。請求書，会場案内図をお送りします。請求書発行の場合，参加費用は原則としてセミナー開催日までに支払うようお願い致します。 (ご注意) 8月25日以降のキャンセルの場合，キャンセル料として3,000円を頂戴します。
●申込先	(社)エレクトロニクス実装学会 Tel:03-5310-2010，Fax: 03-5310-2011，E-mail: kenkyukai@jiep.or.jp

2003サマーセミナー

「高速差動伝送とＥＭＣ実装評価」開催のご案内