エレクトロニクス実装の基盤技術となる信頼性解析技術について，業界が課題としていることにフォーカスし，学会でなければ解決できない技術的課題に取組むことを目的に活動している。
当技術委員会では、「ECM研究会」（エレクトロケミカルマイグレーションの発生メカニズムと抑制技術に関する議論および評価手法の規格化を目的）と「錫ウィスカ研究会」（鉛フリー化する電子部品の致命的なリスクとなりうる錫ウィスカの発生メカニズムおよび抑制手法について議論することを目的）を組織している。 |
委 員 長 澁谷忠弘（横浜国立大学） shibu*ynu.ac.jp
(Eメールアドレスの*は@に置き換えてください。) |
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