|
|
募集要領 |
|
|
期 日: |
2002年10月24日(木),25日(金)の2日間 |
|
会 場: |
国立オリンピック記念青少年総合センター会議室
(東京都渋谷区代々木神園町 :小田急線「参宮橋」駅下車徒歩10分,地下鉄千代田線「代々木公園」駅下車徒歩13分) |
|
参加費用: |
会員 |
37,800円 |
非会員 |
44,100円 |
(消費税,昼食・テキスト代込み) |
|
|
定 員: |
70名(先着順にて受付) |
|
申込み: |
申込書に必要事項をご記入の上,(社)エレクトロニクス実装学会事務局までFax(03-5310-2011)かEメール(info@jiep.or.jp)でお申し込み下さい。 |
|
プログラム: (予定) |
10:00 - 11:00 |
実装技術概論
実装の歴史および実装階層と技術課題を解説し,さらに複雑化する実装技術と実装工学の体系化に触れる。 |
11:05 - 12:05 |
半導体素子とパッケージ動向
システムLSI,メモリ,MPUなどの集積度とデザインルール及びBGA,CSPに代表される超小型パッケージ技術を紹介する。 |
12:55 - 14:55 |
マルチチップモジュール(MCM)/高密度機器実装
モジュールレベルの高密度実装技術と携帯端末やノートPCに代表される高密度機器実装を具体例で紹介する。 |
15:05 - 17:00 |
配線板技術動向
デザインルールから見た微細化・高密度配線技術動向とビルドアップ配線板,セラミック・金属コア配線板の特徴・用途などを解説する。 |
09:45 - 11:45 |
組み立て技術
はんだ付け技術の基本と評価方法,製品の歩留まりを向上させるマイクロソルダリング(表面実装)の技術ポイントと鉛フリー化への対応,さらにベアチップ実装(W/B,TAB,FC)の技術ポイントを解説する。 |
12:45 - 14:45 |
封止技術
トランスファーモールドおよび各種封止技術とその信頼性について具体例で解説する。また,初期不良と寿命の関係や故障解析手法も紹介する。 |
15:00 - 17:00 |
シミュレーション・評価・実装設計
配線板の膜内部ストレス解析と製品設計の品質向上と開発期間を短縮するための電気信号伝播特性・ノイズ解析・放熱解析設計技術・構造強度解析技術を解説する。 |
|