社団法人エレクトロニクス実装学会
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信頼性解析技術委員会
シンポジウム開催のご案内
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『鉛フリー化技術の実用段階における信頼性の諸問題』

 信頼性解析技術委員会では、鉛フリー化技術におけるウイスカ、実装信頼性とその計測技術など、実用段階における信頼性に関する諸問題について議論するため、下記要領でシンポジウムを開催しますので、ご案致します。皆様方の積極的なご参加を歓迎致します。
 
日 時: 2006年1月27日(金), 10:00~17:00
場 所: エレクトロニクス実装学会 会議室(回路会館)
〒167-0042 東京都杉並区西荻北 3-12-2
地図 http://www.e-jisso.jp/intro/intro07.html
 プログラム:
 
10:00 - 10:30  『低温鉛フリーはんだの技術動向』
 菅沼 克昭(阪大)
10:30 - 11:15  『コネクタのウイスカ対策の現状と課題』
 森内 裕之(第一電子工業)
11:15 - 12:00  『外力負荷をうけるコネクタのウイスカ解析』
 澁谷 忠弘(横浜国大)
12:00 - 13:00  昼休み
13:00 - 13:45  『鉛フリーはんだ材料の物性およびその評価法』
 苅谷 義治(NIMS)
13:45 - 14:30  『鉛フリーはんだ接合部の信頼性解析』
 于 強(横浜国大)
14:30 - 15:15  『超小型部品とPbフリーはんだにおける高密度実装技術』
 土門 孝彰(TDK)
15:15 - 16:00  『実装信頼性における計測技術』
 三浦 英生(東北大)
16:00 - 16:40  総合討論
参加費: 会員: 8, 000円  非会員: 10, 000円  学生: 2, 000円
支払い方法: 当日、会場受付にて、現金でお支払い下さい。
(できる限りつり銭のないようお出で下さい)
申込方法: 電子メールでの申し込みのみとさせて頂きます。
下記申込書に記入の上、お申し込み下さい。

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エレクトロニクス実装学会御中
2006年1月27日(金)シンポジウム参加申込書
下記の通り申し込みます。
(1)氏 名:
(2)所 属:
(3)連絡先: (〒、住所、電話、FAX、E-mail)
(4)会員の種別: 会員(会員番号: )・非会員・学生
(5)領収書: 要・不要
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申込先: (社)エレクトロニクス実装学会 Tel: 03-5310-2010
E-mail: e-kenkyukai@jiep.or.jp
申込締切: 2006年1月26日(木)
なお、先着順で100名に達した時点で締め切らせて頂きます。
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