1. |
筐体へ直接配線を形成する技術
本田 朋子/東芝 |
2. |
低環境負荷プロセスに向けた新規塗布型シリコーン材料の開発
原 憲司/ADEKA |
3. |
次世代パッケージ用ソルダーレジスト
蔵渕 和彦/日立化成工業 |
4. |
低コスト大電流PCBを可能とするWirelaid技術
池田 博昌/第一実業 |
5. |
有機・無機ハイブリッド技術を用いた低CTE基盤材料
田崎 崇司/荒川化学工業 |
6. |
半断線TSVの電磁界シミュレータによる故障動作解析
近藤 将平/徳島大学 |
7. |
熱・電気連成解析とモンテカルロシミュレーションを併用したシリコンデバイス熱設計の精緻化
畠山 友行/富山県立大学 |
8. |
発熱解析装置とX線CT装置の組み合わせによる、非破壊解析の応用事例
清宮 直樹/丸文 |
9. |
サブミクロンAu粒子を用いた低温ウェハ接合
石田 博之/ズース・マイクロテック |
10. |
1μm帯VCSELを用いた20Gbps×12ch オンボード光トランシーバ
蔵田 和彦/日本電気 |
11. |
超ワイドバス三次元SiP技術
池田 博明/ASET(エルピーダメモリ) |
12. |
三次元集積化プロセス技術
朴澤 一幸/ASET(日立製作所) |
13. |
三次元集積化デバイスから始まる微細積層接合技術における新課題
堀部 晃啓/ASET(日本アイ・ビー・エム) |
14. |
はんだBGAボールを用いた微小接合部界面強度評価
上野 明/立命館大学 |
15. |
高信頼性を目指した電子機器のヘルスモニタリング技術
久國 陽介/東芝 |
16. |
接合後のガラス内部残留応力測定装置の開発
大槻 真左文/東レエンジニアリング |
17. |
200℃動作SiCスイッチングモジュールの開発
徳田 人基/住友電気工業 |
18. |
両面電極パッケージ(DFP)の開発とその応用
勝又 章夫/ジェイデバイス |
19. |
コアレスパッケージ基板の開発
荒井 和也/富士通インターコネクトテクノロジーズ |
20. |
部品内蔵基板における熱設計技術の確立
太田 浩平/大日本印刷 |
21. |
次世代デバイスパッケージ実装技術
井上 雅文/パナソニックファクトリーソリューションズ |
22. |
三次元LSIチップ積層集積に向けたチップ間高密度バンプ接続技術
根本 俊介/産業技術総合研究所 |
23. |
LEDにおけるフリップチップ接合技術
小塩 哲平/パナソニックファクトリーソリューションズ |
24. |
積層磁性セラミック技術を応用した超小型MEMSエアタービン発電機の開発
飯塚 茜/日本大学 |
25. |
パワーデバイスパッケージの実装技術
宝藏寺 裕之/日立製作所 |
26. |
放射光X線CTを用いたはんだ接合部の非破壊信頼性評価
釣谷 浩之/富山県工業技術センター |
27. |
Cuめっきバンプを用いたチップ間常温かしめ接続技術の開発
川下 道宏/日立製作所 |