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日時： |
2012年11月30日（金） 13:00～18:00 |
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会場： |
回路会館 地下会議室
ＪＲ中央線西荻窪駅下車徒歩約７分
〒167-0042 東京都杉並区西荻北3-12-2
TEL．03-5310-2010
地図 → http://www.e-jisso.jp/intro/intro07.html |
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テーマ： |
『見えない、触れない』基板の検査
～高品質で競争力のあるものづくりのために～
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プログラム： |
| 12:30 |
受付開始 |
| 13:00～13:15 |
開会あいさつ
日置電機：山嵜 浩（ボードテスト技術研究会 主査） |
| 13:15～14:10 |
「適用拡大するバウンダリスキャンテスト」
－３次元LSIからスーパーコンピュータまで－
富士通：亀山 修一 |
| 14:10～14:50 |
組込みシステムへのＪＴＡＧ機能の活用」
地方独立行政法人
東京都立産業技術研究センター：坂巻 佳壽美
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| 14:50～15:30 |
「バウンダリスキャン機構を用いた
実装基板におけるIC接続部の電気的検査」
徳島大学大学院：橋爪 正樹
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| 15:30～15:45 |
休憩 |
| 15:45～16:25 |
「新ＣＡＤデータフォーマット
ＦＵＪＩＫＯによる基板検査データの作成」
日置電機：山嵜 浩
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| 16:25～17:05 |
「静電容量型プローブによる
欠陥配線のイメージング」
東京電機大学：野口 祐智
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| 17:05～17:10 |
閉会あいさつ
富士ゼロックス：内山 浩志（検査技術委員会 委員長） |
| 17:10～18:00 |
交流会（名刺交換・情報交換等） |
※プログラムは変更になることがあります。ご了承ください。 |
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参加要領： |
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定 員 100名(先着申込順 定員になり次第締切ます) |
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参加費 (テキスト代、消費税込み)
正会員・賛助会員：3,000円
非会員：4,000円
シニア会員：1000円
学生会員：1,000円
会員外の学生：2,000円
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参加費は当日会場受付にて徴収します。釣り銭のないようにお願いします。) |
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クーポン(賛助会員向け)のご利用はできません。 |
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交流会参加は無料ですが、準備の都合上、出欠予定を申込書のコメント欄にご記入ください。 |
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申込方法： |
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申し込みはここから。登録されますと参加票が返信されます
★申し込みをキャンセルされる場合はこちらへ。
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定員(100名)を超え、参加をお断りするときは連絡を差し上げます。
お申込みせずに当日おいでいただいても、定員に達している場合は入場できません。
必ず事前にお申込みください。
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問い合わせ先： |
エレクトロニクス実装学会 事務局
03-5310-2010 jiep-info@jiep.or.jp |
