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日時： |
2014年1月24日（金） 13:00～18:00 |
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会場： |
回路会館 地下会議室
ＪＲ中央線西荻窪駅下車徒歩約７分
〒167-0042 東京都杉並区西荻北3-12-2
TEL．03-5310-2010
地図 → http://www.e-jisso.jp/intro/intro07.html |
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テーマ： |
『競争力のあるものづくり』
～適正品質を目指した基板検査～ |
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プログラム： |
| 12:30 |
受付開始 |
| 13:00 |
開会の挨拶 （大久保 今朝秀 主査） |
| 13:05 |
検査技術委員会／ボードテスト技術研究会の活動報告
「はじめに：競争力のあるものづくりとは？」 |
| 13:25 |
講演１：「日本丸が勝つためのカギ：品質/競争力/ものづくり (仮)」
東京都立産業技術研究センター 坂巻 佳壽美 氏 |
| 13:50 |
講演２：「最高の品質を最大の効率で」
オムロン（株） 杉山 俊幸 氏 |
| 14:15 |
講演３：「ボード設計におけるDFT (Design for Testability)環境と事例の紹介」
（株）図研 高木 潔 氏 |
| 14:40 |
休憩 |
| 14:50 |
講演４：「テスト効率向上を目指した検査手法：アダプティブテスト」
ルネサスエレクトロニクス（株） 中村 芳行 氏 |
| 15:15 |
講演５：「海外における検査品質の考え方 (仮)」
大西電子（株） 福本 茂樹 氏 |
| 15:40 |
休憩 |
| 15:50 |
パネルディスカッション
テーマ「過剰品質から適正品質を目指した基板検査」
パネリスト
坂巻 佳壽美 氏 (東京都産業技術研究センター)
多田 哲生氏 （徳島文理大学）
杉山 俊幸氏 （オムロン（株））
高木 潔 氏(（株）図研)
中村 芳行 氏 （ルネサスエレクトロニクス（株））
司 会
内山 浩志 (検査技術委員会 委員長) |
| 16:55 |
閉会のあいさつ（大久保 主査） |
| 17:00 |
交流会（名刺交換・情報交換等） |
| 18:00 |
終了予定 |
※プログラムは変更になることがあります。ご了承ください。 |
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主催： |
（一社）エレクトロニクス実装学会 検査技術委員会
ボードテスト技術研究会 |
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参加要領： |
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定 員 60名(先着申込順) |
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参加費 公開研究会(テキスト代、消費税込み)
正会員・賛助会員：3,000円
非会員：4,000円
シニア会員(60才以上の会員)＆学生会員：1,000円
会員外の学生：2,000円 |
| ＊ |
参加費は当日会場受付にて徴収します。
(釣り銭のないようにお願いします。) |
| ＊ |
クーポン(賛助会員向け)のご利用はできません。 |
| ＊ |
交流会参加は無料ですが、準備の都合上、出欠予定を申込書にご記入ください。 |
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申込方法： |
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申し込みはここから。登録されますと参加票が返信されます
★申し込みをキャンセルされる場合はこちらへ。
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| ＊ |
定員(60名)を超え、参加をお断りするときは連絡を差し上げます。
お申込みせずに当日おいでいただいても、定員に達している場合は入場できません。必ず事前にお申込みください。 |
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問い合わせ先： |
大久保 今朝秀（日本フェンオール）： kensa-gijutsu@jiep.or.jp |
