| ◆日時： |
2015年1月23日（金） 13:00～18:00 |
| ◆会場： |
回路会館 地下会議室
ＪＲ中央線西荻窪駅下車徒歩約７分
〒167-0042 東京都杉並区西荻北3-12-2
TEL.03-5310-2010
地図 → http://www.e-jisso.jp/intro/intro07.html |
| ◆テーマ： |
『競争力のあるものづくり』
～しんか（進化・深化・真価）を求める検査～ |
| ◆プログラム |
- ○12:30
- 受付開始
- ＊13:00
- 開会の挨拶 （大久保 今朝秀 主査）
- ＊13:05
- 検査技術委員会／ボードテスト技術研究会の活動報告
・JIEP学会誌－小特集
- ＊13:20
- 基調講演：品質は品格である －見えない欠陥との戦い－
高知工科大学 眞田 克 氏
- ＊13:50
- 講演１：（国際標準化を視野に入れた）プリント実装基板における「品質コストの最小化」
オムロン（株） 杉山 俊幸 氏
- ＊14:15
- 講演２：テストのビッグデータ活用による半導体業界の検査技術の進化
ルネサスセミコンダクタ パッケージ＆テストソリューションズ（株） 中村 芳行 氏
- ＊14:40
- 休憩
- ＊14:50
- 講演３：車載電子機器の品質課題と対応状況
日産自動車（株） 堀井 良和 氏
- ＊15:15
- 講演４：量産工場における検査の課題と対策
富士通ITプロダクツ（株） 勢登 健志 氏
- ＊15:40
- 休憩
- ＊15:50
- パネルディスカッション テーマ「しんか（進化・深化・真価）を求める検査」
パネリスト 眞田 克 氏 (高知工科大学)
杉山 俊幸 氏（オムロン（株））
中村 芳行 氏 （ルネサスセミコンダクタパッケージ＆テストソリューションズ（株））
堀井 良和 氏（日産自動車（株））
勢登 健志 氏（富士通ＩＴプロダクツ（株））
司 会 内山 浩志 (検査技術委員会 委員長)
- ＊16:55
- 閉会のあいさつ（大久保 主査）
- ＊17:00
- 交流会（名刺交換・情報交換等）
- ○18:00
- 終了予定
※プログラムや講演タイトルは変更になることがあります。ご了承ください。 |
| ◆主催 |
（社）エレクトロニクス実装学会 検査技術委員会
ボードテスト技術研究会 |
| ◆参加要領 |
- ＊定 員
- 60名(先着申込順)
- ＊参加費
- 公開研究会(テキスト代、消費税込み)
正会員・賛助会員：3,000円
非会員：4,000円
シニア会員(60才以上の会員)＆学生会員：1,000円
会員外の学生：2,000円
＊参加費は当日会場受付にて徴収します。
(釣り銭のないようにお願いします。)
＊クーポン(賛助会員向け)のご利用はできません。
＊交流会参加は無料ですが、準備の都合上、出欠予定を申込書にご記入くだ
さい。 |
| ◆申込方法 |
＊申込方法 ：
申し込みはここから。登録されますと参加票が返信されます。
申し込みをキャンセルされる場合はこちらへ。
＊定員(60名)を超え、参加をお断りするときは連絡を差し上げます。
お申込みせずに当日おいでいただいても、定員に達している場合は入場できません。必ず事前にお申込みください。 |
| ◆問い合わせ先 |
＊大久保 今朝秀（日本フェンオール）： kensa-gijutsu@jiep.or.jp |
