【研究会設置の趣旨】
   「イオンマイグレーション試験法ノウハウ集」は1996年12月に第１版を発行したが、好評の内に売り切れとなり、新たに改訂版を発行することが要請されている。
   前年度まで、加速寿命試験方法検討研究会のもとにHAST(Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test)に関する体系的なデータ収集を共同実験によって達成し、公開研究会を実施して結果を報告した。この研究会の実績も踏まえて、更に追跡調査も実施することと、その後の国内外の研究経過を調査研究して、第１版を抜本的に改訂した第２版を発行することを目的に研究会活動を行っている。

【平成15年度活動計画】
   前記「ノウハウ集」の見直しを行うに当たって、その内容の再検討と見直し箇所の摘出を行う。また、HASTは高温で行われる試験であるため、追加試験を行うことによって、プリント配線板への適用可能範囲がどこにあるのかなど見極めを行うことを計画している。
   次いで、イオンマイグレーションの一種であるCAF(Conductive Anodic Filaments)についての国際規格化が行われようとしている。最近開かれた会議に於いても日本の提案を行っている。さらに、これに対応するための実験による確認を行って、規格化への提案を行うべく、配線板の設計などを行っている。 
   一方、会員各位から試験法に対するアンケート調査も行って、その結果を整理し、フィードバックを図っている。
研究会は、原則非公開で２ヶ月に１回開催し、そこで審議された結果を基に報告書を作成し、公開研究会を開催することにしている。報告書には、実際、委員分担で実験を行った結果なども含まれる。次回の公開研究会は「HASTによる加速劣化試験と国際標準の動向」と題して回路会館地下１階にて、12月9日(火) 13：30～17：00　に行う。

【連絡先】
主査： 津久井 勤
東海大学　電子情報学部　電気電子工学科
E-mail: tsukui@keyaki.cc.u-tokai.ac.jp
幹事：小林　和仁
日立化成工業（株）総合研究所 回路部材開発センター
E-mail: kazu-kobayashi@hitachi-chem.co.jp
幹事：中村　和裕
新光電気工業（株）基盤技術研究所　材料研究部
E-mail: k-nakamura@mail.shinko.co.jp