| 開催日時： |
平成26年7月30日（水）〈13：30～16：50〉 |
| 会場： |
回路会館 地下会議室
ＪＲ中央線西荻窪駅下車徒歩約７分
〒167-0042 東京都杉並区西荻北3-12-2 TEL.03-5310-2010
地図 → http://www.e-jisso.jp/intro/intro07.html |
| テーマ： |
〈検査における画像化と視覚の定量化に関する最新技術動向－－見えないもの・見えにくいものを捉える－－〉 |
| プログラム： |
- 13：00
- 受付開始
- 13：30
- 開会挨拶（野中一洋 主査）
- 13：35～14：25
- 特別講演１：「鏡面反射面の３次元形状計測可能なレーザーレンジファインダの開発」
茨城大学 馬場 充氏
- 14：25～15：15
- 特別講演２：「高速ビジョンとそのセンシング応用」
広島大学 石井 抱氏
- 15：15～15：30
- 休憩
- 15：30～15：50
- 製品技術紹介：「製品のばらつきに強い高感度、高速フルカラー最終外観検査装置」
インスペック（株） 村上知広氏
- 15：50～16：20
- 一般講演1：「ISO表面性状パラメータを粗さの物理指標としたテクスチャ表面の定量化手法」
近畿大学 米原牧子氏
- 16：20～16：50
- 一般講演2：「タルボ干渉計を用いたX線非破壊検査の検討」
産業技術総合研究所 上原雅人氏、 東北大学 矢代 航氏、百生 敦氏
- 17:05～17:45
- 技術交流会（名刺交換、情報交換等）
注）プログラムは変更になることがあります。ご了承ください。 |
| 定 員： |
100名（先着申し込み順 定員になり次第締め切ります）
〈参加申し込みは当日まで受け付けますが、予稿集などの準備の関係上、事前登録にご協力をお願いします。〉
参加者の皆様にはご名刺を頂戴いたしますので、ご用意ください。ご名刺がない場合には、ご記帳いただきます。
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| 参加費： |
（予稿集代込み、消費税込み）
正会員：3,000円
賛助会員：4,000円
シニア会員：1,000円
名誉会員：無料
非会員：6,000円
学生会員：無料（学生証を受付で提示してください）
会員外の学生：1,000円（学生証を受付で提示してください）
注１） 参加費は当日受付で徴収します。つり銭の無いようご準備をお願いします。
注２） 賛助会員クーポン券のご利用はできません。
注３） 交流会参加は無料ですが、準備の都合上、出欠予定を申込書のコメント欄にご記入ください。
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| 申込方法： |
申し込みはここから。登録されますと参加登録確認メールが返信されます。
申し込みをキャンセルされる場合はこちらへ。
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| 問い合わせ先： |
エレクトロニクス実装学会 事務局 03-5310-2010
ase＠jiep.or.jp （SPAM対策のため＠を全角で表示しています） |
