| 開催日時： |
平成27年1月28日（水）〈13：30～17：00〉 |
| 会場： |
回路会館 地下会議室
ＪＲ中央線西荻窪駅下車徒歩約７分
〒167-0042 東京都杉並区西荻北3-12-2 TEL.03-5310-2010
地図 → http://www.e-jisso.jp/intro/intro07.html |
| テーマ： |
〈競争力のあるものづくりを目指して －－ 官能検査自動化に関する最新技術動向：高速化、可視化、定量化、及び共通化 －－〉 |
| プログラム |
- ○ 13：00
- 受付開始
- ○ 13：30
- 開会挨拶（野中一洋 主査）
- ○ 13：35～14：35
- 基調講演： 「今こそ競合に勝てるＰＣＢ作りを実践せよ」
経営支援NPOクラブ 長谷川堅一
- ○ 14：35～15：00
- 製品技術紹介１： 「高速度カメラを用いた画像処理とその応用」
～ラインおよびエリアスキャンカメラによる外観検査システム～
伊藤忠テクノソリューションズ 鈴置昌宏
- ○ 15：00～15：25
- 製品技術紹介２： 「3次元測定を用いた傾き、たわみ、寸法検査技術」
富士テクニカルリサーチ 渡辺 惇
- ○ 15：25～15：40
- 休憩
- ○ 15：40～16：20
- 一般講演１： 「静電気分布計測技術」
産総研 菊永和也
- ○16：20～17：00
- 一般講演２： 「めっき外観異常（光沢ムラ・色ムラ）の検査技術と国際標準化」
産総研 野中一洋
- ○ 17：10～18：10
- 技術交流会（名刺交換、情報交換、めっき外観検査装置試作機展示、等）
注１）デモ運転では、観察をご希望されるサンプルがあればお持ちください。
注２）プログラムは変更になることがあります。ご了承ください。
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| 定 員 |
100名（先着申し込み順 定員になり次第締め切ります）
〈参加申し込みは当日まで受け付けますが、予稿集などの準備の関係上、事前登録にご協力をお願いします。〉
参加者の皆様にはご名刺を頂戴いたしますので、ご用意ください。ご名刺がない場合には、ご記帳いただきます。
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| 参加費 |
（予稿集代込み、消費税込み）
正会員：3,000円
賛助会員：4,000円
シニア会員：1,000円
名誉会員：無料
非会員：6,000円
学生会員：無料（学生証を受付で提示してください）
会員外の学生：1,000円（学生証を受付で提示してください）
注１） 参加費は当日受付で徴収します。つり銭の無いようご準備をお願いします。
注２） 賛助会員クーポン券のご利用はできません。
注３） 交流会参加は無料ですが、準備の都合上、出欠予定を申込書のコメント欄にご記入ください。
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| 申込方法 |
申し込みはここから。登録されますと参加登録確認メールが返信されます。
申し込みをキャンセルされる場合はこちらへ。
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| 問い合わせ先 |
エレクトロニクス実装学会 官能検査自動化研究会 第4回公開研究会 係
ase@jiep.or.jp |
