| 開催日時： |
平成28年7月27日（水）〈13：30～17：00〉 |
| 会場： |
回路会館 地下会議室
ＪＲ中央線西荻窪駅下車徒歩約７分
〒167-0042 東京都杉並区西荻北3-12-2 TEL.03-5310-2010
地図 → http://www.e-jisso.jp/intro/intro07.html |
| テーマ： |
〈IoT時代を見据えた検査と新事業展開〉 |
| プログラム |
- ○ 13：00
- 受付開始
- ○ 13：30
- 開会挨拶（野中 一洋 主査）
（AIによる自動検査のショートセミナー）
- ○ 13：35～13：55
- 「AIによる自動検査とは」
ロンド・アプリウエアサービス 中崎 勝
- ○ 13：55～14：25
- 「AI概論とデモ」
グルーヴノーツ 二角 直秀、リアクティブ 飯沼 純
- ○ 14：25～14：35
- QA
- （14：35～14：45 休憩）
（外観検査の最新情報）
- ○ 14：45～15：25
- 一般講演1「測長機と外観検査装置の融合」
ステラ・コーポレーション 大竹 信男
- ○ 15：25～16：05
- 一般講演2「水素エネルギー社会を支援する応力発光を用いた力学分布の可視化技術」
産業技術総合研究所 藤尾 侑輝
- （16：05～16：15 休憩）
- ○ 16：15～16：55
- 一般講演3「めっきムラ客観評価技術：ムラの数値化、標準化・規格化、および今後の展開」
産業技術総合研究所 野中 一洋
- ○ 17：15～18：15
- 技術交流会（名刺交換、情報交換等）
注1）プログラムは変更になることがあります。ご了承ください。
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| 定 員 |
100名（先着申し込み順 定員になり次第締め切ります）
〈参加申し込みは当日まで受け付けますが、予稿集などの準備の関係上、事前登録にご協力をお願いします。〉
参加者の皆様にはご名刺を頂戴いたしますので、ご用意ください。ご名刺がない場合には、ご記帳いただきます。 |
| 参加費 |
参加費（予稿集代込み、消費税込み）
正会員：4,000円
学生会員：無料（学生証を受付で提示してください）
シニア会員：1,000円
賛助会員：5,000円
非会員：8,000円
非会員学生：1,000円（学生証を受付で提示してください）
注１） 参加費は当日受付で徴収します。つり銭の無いようご準備をお願いします。
注２） 賛助会員クーポンのご利用はできません。
注３） 交流会参加は無料ですが、準備の都合上、出欠予定を所定欄に入力ください。
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| 申込方法 |
申し込みはここから。
登録されますと参加登録確認メールが返信されます。
申し込みをキャンセルされる場合はこちらへ。
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| 問い合わせ先 |
エレクトロニクス実装学会 事務局
ase＠jiep.or.jp
(本メールアドレスはSPAM対策のため＠を全角で表示しております。)
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