(1) |
材料技術:銅張積層板、銅箔、基材(有機、無機)、導電性接着剤、導電性ペースト、感光性樹脂、フィルム、レジスト材料、インク材料、三次元実装材料、SiP材料、アンダーフィル材料 |
(2) |
回路・実装設計技術:ボード設計、パッケージ設計、チップ・パッケージ・ボード協調設計、3次元実装設計、2次元/3次元回路・実装シミュレーション技術、デジタル・アナログ回路設計、放熱設計、表面処理設計、検査設計 |
(3) |
高速高周波・電磁特性技術:EMC実装設計、EMIシミュレーション、EMC測定技術、EMCモデリング、伝送特性、イミュニティ、超高速・高周波実装、高周波回路実装、高周波パッケージ、モジュール、高速信号伝送、グラウンドバウンス、ESD、SAR、ワイヤレス・モバイル、高周波材料特性 |
(4) |
配線板製造技術:アートワークおよびフォトマスク、穴あけ加工、洗浄、めっき、パターン形成、エッチング、積層接着、レジスト、アディティブ、FPC |
(5) |
信頼性解析技術:故障解析、ヘルスモニタリング、絶縁信頼性,耐熱信頼性、システム接続信頼性、基板・配線信頼性、実装プロセス信頼性、接続信頼性、信頼性シミュレーション技術、信頼性試験、非破壊検査、フラクトグラフィ、マイグレーション、ウィスカ |
(6) |
電子部品・実装技術:電子部品(チップ部品/コネクタ、ソケット等/ICパッケージ/ベアチップ、部品内蔵基板、等)、ソルダリングおよび関連材料、鉛フリーはんだ接合、マイクロ接続、ACF接続、先進実装(ソルダレス実装、フラックスレス実装)、COB実装、COG実装、COF実装、MCM/MCP、SiP、3次元実装、実装装置・工法 |
(7) |
検査技術:外観検査、X線検査、プリント配線板検査、実装基板検査、部品内蔵基板検査、電気特性試験・検査、機器機能試験、DFT(テスト容易化設計)、バウンダリスキャン技術、BIST・BOST技術、プロービング技術、穴の検査(ビア・スルーホール)、はんだ形状検査、搭載部品検査、非接触検査、アットスピード検査、低周波検査、複合検査方式、加速試験・検査、CAT(コンピュータ支援検査) |
(8) |
光回路実装技術:光実装技術(アライメント、光結合、パッケージング、低コスト化/量産化、信頼性)、光表面実装技術、光インタコネクション、光モジュール/装置、光部品(光ファイバ、光導波路、光配線板、光コネクタ、光センサ、集積化光デバイス、光MEMS、微小光学材料/部品)、シリコンフォトニクス |
(9) |
環境調和型実装技術:省エネルギー、再生可能エネルギー、スマートグリッド、スマートシティ、低エネルギー消費社会、電動化、低損失モジュール、放熱技術、軽量・高強度化、低環境負荷、省資源、レアメタル代替技術、有害化学物質、環境保護、生物多様性、バイオミメティクス、 リサイクル、易解体性、エコデザイン、法規制・RoHS・REACH対応、LCA、環境分析 |
(10) |
システムインテグレーション実装技術:システムインテグレーションパッケージ(SiP、MCM/MCP、PoP、3次元チップ積層)、接続技術(TSV,ワイヤボンディング接続、フリップチップ接続、ACF/NCF接続、はんだ代替、各種ペースト)、放熱技術、構造・熱応力解析技術、環境対応技術、ウェハ研削技術、封止技術、めっき技術、各種実装材料 等 |
(11) |
マイクロメカトロニクス実装技術:MEMS実装、ウェアラブルデバイス実装、ユビキタスデバイス実装、センサネットデバイス実装、ウェハボンディング、ナノインプリント、マイクロモールディング、高精度・高速アセンブリ |